Aparatura badawcza dostępna do działalności komercyjnej:
skaningowy mikroskop elektronowy (SEM) FEI Quanta 3D FEG wyposażony w kolumnę jonową FIB, 2012, FEI USA.
Potencjalne usługi badawcze:
obrazowanie SEM w wysokiej próżni;
obrazowanie SEM w trybie środowiskowym;
obrazowanie SEM z równoczesnym podgrzewaniem preparatu do 1000 deg C;
analiza składu chemicznego preparatu;
mapowanie pierwiastkowe preparatu;
identyfikacja fazy krystalicznej preparatu;
precyzyjne trawienie jonowe powierzchni;
precyzyjne nanoszenie przewodzących metalicznych ścieżek platynowych (ok. 100 nm szerokości);
przygotowanie preparatu „lamelki” (cienkiej folii <100 nm) za pomocą techniki jonowej dla obrazowania TEM.
Stosowane metody i techniki badawcze:
metoda obrazowania SEM;
metoda obrazowania ESEM;
fluorescencja EDX i WDS;
dyfrakcja elektronów EBSD;
techniki jonowa FIB;
technika nanoszenia platyny GIS.
Wykonywane zlecenia:
analiza SEM próbki – dostarczona próbka zostaje zobrazowana w mikroskopie SEM (tryb SE – elektrony wtórne oraz BSE – elektrony wstecznie rozproszone), następnie badany jest skład pierwiastkowy próbki za pomocą techniki EDX;
przygotowanie „lamelki” pod TEM – powierzchnia dostarczonej próbki zostaje zabezpieczona warstwą platyny za pomocą układu GIS, następnie wycinana jest cienka folia za pomocą działa jonowego FIB, która zostaje przymocowana do specjalnego holdera miedzianego. Tak przymocowana próbka następnie jest pocieniana za pomocą jonów aż do grubości około 100 nm.
Research apparatus available to commercial activity:
scanning electron microscope (SEM) FEI Quanta 3D FEG equipped with Ion column FIB, 2012, FEI USA.
Potential research services:
SEM imaging in high vacuum, SEM environmental imaging, SEM imaging with the simultaneous sample heating up to 1000 deg C;
chemical analysis of the sample;
chemical mapping of the sample;
crystal phase identification of the sample;
precision ion etching of the sample surfaces;
precision patterning of the metallic conducting platinum tracks (ca. 100 nm width);
preparation of the thin foil „lamella” (<100 nm) using ion technique for the TEM imaging.
Methods and research techniques:
SEM imaging, ESEM imaging;
fluorescence EDX and WDS;
EBSD electron difraction;
FIB ion technique;
GIS Platinum deposition technique.
Performed contract research:
SEM analysis of the sample – the sample is imaged using SEM microscope (SE – secondary electrons and BSE – backscatter electrons signal), next the chemical composition of the sample is examined using EDX technique;
TEM „lamella” preparation – the surface of the sample is protected by the platinum layer using GIS system, next the thin foil if cut out using FIB ion technique, the foil is mounted to the special cupper holder. Such mounted sample is later thinned using ions up to ca. 100 nm width.
Mając na względzie ochronę i bezpieczeństwo Twoich danych osobowych, firma Bio-Tech Media sp. z o.o., przykładając szczególną wagę do ich ochrony, dostosowała swoje zasady ich przetwarzania do obowiązującego od dnia 25 maja 2018 roku Rozporządzenia Parlamentu Europejskiego i Rady (UE) z dnia 27 kwietnia 2016 r. nr 2016/679
Nasza zaktualizowana polityka prywatności wprowadza wszystkie pozytywne zmiany, w tym sposób, w jaki zbieramy, przetwarzamy i przechowujemy Twoje dane osobowe. Przedstawia sposób, w jaki możesz się z nami skontaktować, aby skorzystać z przysługujących Ci praw.
W tej chwili nie musisz podejmować żadnych działań, ale jeśli chcesz dowiedzieć się więcej, zapoznaj się z naszą polityką prywatności.
